法規 問13（b）電験三種 令和8年度 上期
80 / 80問令和8年度 上期上期
高圧進相コンデンサの劣化診断について，次の(a)及び(b)の問に答えよ。小問(a)の測定により，劣化による内部素子の破壊(短絡)が発生していると判断し，機器停止のうえ各相間の静電容量を2 端子測定法(1 端子開放で測定)で測定した。図2 のとおりの内部結線における素子破壊(素子極間短絡)が発生しているとすれば，静電容量測定結果の記述として，正しいものを次の(1)～(5)のうちから一つ選べ。ただし，図中×印は，破壊素子を表す。
選択肢をえらぶと、答えと解説が出ます
選択肢をえらぶと、
ここに答えと解説が出ます
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正答 2解説
R相は2素子のうち1素子が短絡したため容量が2倍になり、S相とT相は正常のままである。2端子測定では相どうしが直列になるので、容量の小さい相だけが直列となるS-T相間の測定値が最も小さくなる。
KEY POINT
素子短絡でその相の容量は増える「法規」の他の問題
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出典：令和8年度 上期 第三種電気主任技術者試験 法規 問13b（一般財団法人 電気技術者試験センター）
一般財団法人 電気技術者試験センターが公表している過去問題です。試験センターの案内（教育目的など試験制度の意義に反しない限り、許諾および使用料は不要）に基づき、出典を明記して掲載しています。問題文・選択肢の内容は変えていません。文字で表す都合で、上付き・下付きの字は小さい字、分数は「分子/分母」の1行で表しています。図表は試験センターが公表した問題PDFのものです。解説は当サイトが独自に作成したもので、試験センターとは関係ありません。
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