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問47ITパスポート 令和元年度 秋期

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令和元年度 秋期

ソフトウェアの品質を判定する指標として，機能単位の不良件数をその開発規模で割った値を“不良密度”と定義する。不良密度の下限値と上限値を設定し，実績値がその範囲を逸脱した場合に問題ありと判定するとき，A 工程では問題がなく，B 工程で問題があると判定される機能はどれか。ここで，不良密度の下限値は0.25件／KS，上限値は0.65件／KS とする。また，不良密度の下限値，上限値及び開発規模は，両工程とも同じとする。

この問題の図
問題に添えられた図。出典は下に書いています。

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選択肢をえらぶと、
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正答 4

解説

不良密度は，機能ごとの不良件数をその開発規模で割って求める。開発規模が80KS の機能では，A 工程の32件が0.4，B 工程の8件が0.1 になる。下限値を0.25，上限値を0.65 とすると，A 工程は範囲に収まり，B 工程は下限を割る。下限を割るのは摘出が足りていない疑いを示すので，逸脱した側に数える。

KEY POINT
不良密度は不良件数を開発規模で割り，上下の限界を外れた工程を問題とする
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出典：令和元年度 秋期分 ITパスポート試験 問47（独立行政法人 情報処理推進機構（IPA））
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